步进式激光直写曝光系统

步进式激光直写曝光系统是一种用于信息与系统科学相关工程与技术领域的工艺试验仪器,于2019年5月27日启用。

 
 
中文名
步进式激光直写曝光系统
学科领域
信息与系统科学相关工程与技术
所属类别
工艺试验仪器 > 电子工艺实验设备 > 半导体集成电路工艺实验设备
产地
德国
启用日期
2019年5月27日
 
 

1技术指标

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最大基板尺寸7inch×7inch;有效曝光面积200mm×200mm。 样品尺寸要求:边长1.5cm以上;最大基板厚度6mm。 激光波段405nm;激光能量300mW。 配0.6μm、1μm、2μm三种不同分辨率激光写头。 最小特征尺寸:0.6um、1um、2um。 描绘网格:10nm、50nm、100nm。 线宽均匀性:60nm、130nm、180nm。 套刻对准精度:0.1μm、0.25μm、0.4μm。 光绘速度:6mm2/分钟、150mm2/分钟、600mm2/分钟。

2主要功能

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该设备可用于:1.光刻掩模版制备;2.微纳图形直写。 传统激光刻蚀过程中,需要先利用特定图形的掩模版对光刻胶曝光。但是在产品研发阶段,样品图案需要经常修改,而掩模版制作较耗时,不能满足研究者缩短研发周期的需求。激光直写系统则专门为研究机构提供了这样一个快捷灵活的解决方案。它可以在不需要掩模版的情况下,直接对光刻胶书写图案,从而使得激光刻蚀过程更加快捷方便,在研发初期可以大大缩短实验周期,节省时间。 该设备采用激光作为光源,透过高精度的光学透镜组,最小直写精度可以达到0.6um,而且工作台平台定位激光干涉仪分辨率10 nm,能够精准的提高光刻图形的提高光刻图形的质量,实现大面积高精度无掩膜直。

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