常见的材料原位表征方法的优点和用途盘点

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01
引言

 

 

随着材料学的研究逐渐向深度发展,研究者们迫切需要对材 料的作用机理结构变化影响其性能的因素进行更深入的研究。然而,传统的非原位(ex-situ)研究方法已经无法满足当 下的需求。以催化领域为例:研究者常借用多种表征手段以及 仪器来了解催化剂的结构,从而更好地构建催化剂结构与性能 间的构效关系。但传统的非原位表征手段只能测试催化剂反应 前后的状态,无法实现过程中动态测试。 近三十年来发展起来的原位表征(in-situ)技术,能够利用 不同的仪器设备针对特定的反应流程进行“在线”分析,作为 一种通过特定的装置,对物质进行连续同步分析,最终得到一 系列以时间或其它相关条件为参数的结果,实现对物质反应过 程变化的分析的技术[1] ,具有动态、实时以及直观等特点。同 样以对催化剂的研究为例,它能够对催化反应进行瞬态反应研 究,所得结果对催化剂的选择与设计有着不可替代的促进作用。 此外,利用原位表征手段,我们可以对化学反应的过程、物质 结构以及形态等进行实时观察,得到诸如反应中间体等信息, 这有助于研究者对反应机理的分析,从而推动化学和材料学的 进一步发展。 参阅近年来在材料、催化以及储能等领域发表的顶刊,不难 发现,其中大多数都利用了原位表征手段对研究对象进行深入 的研究。图1展示了几种比较常用的原位表征手段,主要包括原 位红外、原位拉曼、原位X射线衍射以及原位透射等。接下来, 我们对各种原位表征手段进行简单的概括说明,同时列举部分 典型的文献实例进行分析。

 

 

常见的原位表征技术

 

 

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02
原位X射线衍射(in situ XRD)

 

 

X射线衍射技术(XRD)是通过X射线在样品中的衍射现象, 利用衍射峰的位置和强度,实现定性分析材料的结晶类型、晶 体参数、晶体缺陷以及定量分析不同结构相的相对含量的一种 表征手段。对于应用于储能、催化等领域的材料而言,其晶体 结构往往会随着反应的进行发生演变,而非原位XRD只能检测 到某一状态下材料晶体结构的转变,很难准确得到关于材料在 整个转变过程中的相关信息,尤其是关于电极材料相变和结构 演变的研究。由于不同极片间的物理差异性拆电池、极片洗 以及转移等操作过程的影响,非原位XRD测试往往不能很好 地还原电池材料在充放电过程中的真实状况。然而采用原位 XRD技术则可以避免上述这些问题。原位XRD技术早在20世纪60年代就已运用到材料科学研究中, 主要用于对物质的组成结构进行鉴定和研究: (1)原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息, 可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应,对如何进一 步改进材料具有重要的指导意义; (2)原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息, 由于原位XRD技术在测试的整个过程中是针对同一材料的相同 位置进行测试,因而通过该测试手段所得到的信息(晶胞参数、 峰强度等参数)具有相对可比性,可以得到一系列实时的结构 变化信息。 此外,根据X射线光源的不同,可以将原位XRD技术分为以 下两类: (1)普通原位XRD技术:可以在实验室衍射仪的基础上进 行改造,操作简单方便; (2)同步辐射原位XRD技术:采用同步辐射光源作为衍射 源,由于同步辐射光源亮度极高,单色性好,因此可以缩短测 量时间并获得高质量的测量结果。 山东大学的张进涛教授课题组利用原位XRD表征技术对合成 的PANI100-V2O5材料在嵌入/脱出Zn2+过程中的晶体结构变化进 行了研究[2]。从图2的原位XRD图谱中可以看出,PANI100- V2O5材料的晶体结构在整个Zn2+的嵌入/脱出过程中是完全可逆 的。在放电过程中,由于Zn2+的嵌入,(00l)晶格平面的峰向 小角度方向偏移,在位于0.82 V处的首次放电平台末端,按照 所得的放电比容量计算可知大约有0.36 mol的Zn2+插入到 PANI100-V2O5电极的层间。随着嵌入层间的Zn2+量的增加,分 别在5.5°、11.1°以及16.6°的位置处出现了新的衍射峰,这表明材料的层间距扩大到1.62 nm左右。由于晶格体积膨胀而引起的 结构的不可逆转变(包括相变),会导致电极材料稳定性变差。 因此,根据(004)晶格平面对应的弱峰从25.1°位移到24.5° , 可知层间距由0.35 nm扩张到0.36 nm,细微的层间距变化更有 利于保持材料结构的稳定性。更重要的是,当材料的层间距不 断的由1.42 nm扩大到1.62 nm时,可以积累更多的Zn2+ ,从而提 高电池的比容量。当充电至1.4 V时,原始相的(00l)峰逐渐回 到初始状态,在整个循环过程中没有观察到额外的杂质,进一 步说明了PANI100-V2O5材料良好的结构可逆性。

 

 

2 PANI100–V2O5的原位XRD图谱[2]

 

 

原位XRD表征作为一种XRD的衍生测试手段,不仅能够满足 非原位XRD对晶态材料物相分析,而且还能够实现对晶态材料、 二次电池元器件进行原位高低温、充放电特殊气氛等条件下的 晶体结构测试及分析。目前已在材料、催化以及储能等领域的 相关测试中得到了很好的运用,例如,原位XRD技术可以实时 检测电极材料在充放电的过程中的产物及物相的变化,进一步 促进研究者对材料的反应机理进行深入研究,并对后续的优化 材料设计、合成与应用条件有重要的指导意义。

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03
原位拉曼光谱(in situ Raman)

原位拉曼光谱法依靠物质分子对入射光所产生的的散射现象来 获取样品的相关信息:当入射光与物质发生相互作用时,一小部 分光子不同于入射光频率发生非弹性散射,即拉曼散射,同时该 部分光子提供了分子内部和分子间振动的信息,进而研究物质的 组成或结构特性。在拉曼光谱中,横坐标(峰位置)定性判断物 质的结构信息,纵坐标(峰强度)可对样品进行定量或半定量化 分析。横坐标用波数表示,其单位为cm-1 ,反映了分子或离子簇 在周围环境中的特征振动模式。 在众多原位表征技术中,原位拉曼光谱具有快速、灵敏、无损、 所需样品量少、识别特征振动以及测试范围广等特点(如图3所 示),因此被广泛应用于材料、化学、物理以及生物医药等领域 [3]。与原位XRD技术相比,原位拉曼技术具有独特的优势,它可 以用来研究那些非晶体或者结晶性很差的材料,也适于研究界面 处的反应

 

 

原位拉曼光谱的特点及应用领域[3]

 

 

接下来我们主要介绍原位拉曼光谱技术在化学反应中的应用, 大致体现在以下几个方面:(1)可在实际的化学反应环境中测试,减少人为取样的干扰, 同时提高测试结果的准确性; (2)在电化学反应中可提供活性位点、中间体以及产物的精 细结构信息,深化对反应机理的理解; (3)在极端或复杂环境下(高温高压、地壳流体、深海)研 究物质结构和形态的变化; (4)实时研究沉淀反应驱动的成核与晶体生长过程。 Hu M等人利用原位拉曼技术来探究Ti3C2Tx在酸性电解液中高 容量的原因[4]。研究中所使用的酸性电解液分别为:H2SO4 、 (NH4 )2SO4 以及MgSO4 。研究中获得的部分原位拉曼光谱结果如 图4所示,综合该参考文献的研究结果,可以得到以下结论: (1)在H2SO4的电解液环境中,水合氢离子与Ti3C2Tx表面的 端基(=O)可逆的键合,使Ti的价态改变,产生赝电容,而在 (NH4 )2SO4和MgSO4电解液环境中,只有双电层; (2)H2SO4中的电荷储存方式是离子交换,而(NH4 )2SO4和 MgSO4则是反离子吸附; (3)水合氢离子更小的体积和更少的电荷有利于进入Ti3C2Tx 更深的吸附位点; (4)在H2SO4中的氧化还原过程依赖于表面电容过程而不是扩 散控制过程。 原位拉曼光谱技术除了研究化学反应的反应过程之外,近几年 来也被广泛用于表征几乎所有类型的催化剂,研究对象范围包括 大块或负载金属颗粒及其氧化物和硫化物,以及溶于液体的分子 催化剂。尤其是涉及到固气液三相催化的电催化过程,在研究中 利用到原位拉曼光谱技术,有利于探究电催化剂的真正活性位点 和实际的反应机理,具有重要的指导意义。

 

 

原位拉曼光谱 :(a-b) H2SO4,(c-d) (NH)2SO4 [4]

 

 

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04
原位红外光谱(in situ IR)

 

 

红外光谱技术是现今科研工作者最重要的分析技术手段之一, 是研究表征分子结构的一种有效手段,用于测定样品或反应体系 随时间、温度、压力及环境变化而变化的规律。与其它方法相比 较,它最大的优势在于可以在选择合适制样方式的条件下测定在 任何状态下的样品,包括液体、溶液、粘稠状样品、粉末、膜、 纤维以及气体等。由于分子能选择性吸收某些波长的红外线,从 而引起分子中振动能级和转动能级的跃迁,因此可以检测出红外 线被吸收的情况,得到物质的红外吸收光谱,该光谱又被称为分 子振动光谱或振转光谱。 原位红外技术在催化剂原位表征中占主导地位,借助原位红外 光谱,可以得到非常丰富的分子信息。该技术通常用于识别吸附 原位拉曼光谱 :(a-b) H2SO4,(c-d) (NH)2SO4 [4]的物质,并且可以观测微观吸附范围,同时可以在动力学研究 中跟踪其随时间的变化规律,被广泛应用于催化剂表征(吸附 态、固体表面酸性、活性中心)研究、反应动力学研究,以及 聚合物反应动力学、结晶动力学、固化动力学以及热稳定性、 树脂老化研究。 董帆教授课题组通过原位红外证实,由于Bi2O2CO3光催化剂 {110}和{001}面上原子排列的差异,Bi2O2CO3 -001在吸附活化 过程中使NO转化为NO-或顺式N2O2 2-,而Bi2O2CO3 -110则诱导 NO吸附活化为NO+或N2O3。不同的吸附活化路径将影响光催化 去除NO的效果[5]。

 

 

5 Bi2O2CO3不同晶面吸附NO的原位红外图谱[5]

 

 

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05 原位透射电子显微镜(in situ TEM)

在显微学技术中,原位扫描电子显微镜(in situ SEM )可以实 时检测纳米材料的变化,但是对于研究原子尺度的结构动力学具 有局限性;而原位原子力显微镜(in situ AFM )和原位扫描隧道 显微镜( in situ STM )虽然具有接触式测量和原子级分辨率的优 势,但是又仅局限于材料的表面检测。而原位透射电子显微镜 ( in situ TEM )不但具备非原位透射电子显微镜(TEM)的高 空间分辨率和高能量分辨率优点,同时在电子显微镜内部引入力、热、 电、磁以及化学反应等外部激励,可以直接在原子层次观察 样品在外部激励作用下的微结构演化及进行表征的过程, 通过实 时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外部激励信号的动态 响应过程 ,从而获得相关样品信息。 由于原位透射电子显微镜能提供接近真实环境的条件,更直接 地将材料的微观结构变化与外部信号关联起来,这对于拓展材料 在微观尺度的实验手段,理解各种动态反应的本质,设计和制备 具有新奇性能的材料有着重要意义,因此该表征技术近些年取得 了迅速的发展,不仅在上面所述的原位电、力、热、磁、电子束 领域,借助原位环境透射电子显微镜( in situ ETEM),还可以 实现在原子尺度实时观察化学反应动力学过程[6]。 Jimmy Liu等人利用等体积浸渍法制备了TiO2负载的Ni(NO3 )2粒 子,利用原位环境透射电子显微镜来研究单质Ni在还原气氛 (CO、H2)下在高表面积氧化物载体上的成核和演化的过程[6]。 结果如图6所示,图6(a)显示了TiO2负载前驱物,其中0.35 nm 晶面间距对应锐钛矿TiO2(101)面,0.47 nm晶面间距对应三斜 Ni前驱物的( 111)面。在350 ℃下经CO还原60分钟,可以发现 表层晶面主要由Ni(111)面构成(图6b)。随着反应进行,新 的表层晶面不断形成扩大,同时最初形成的(111)表层晶面逐 渐被消耗掉(图6c-e)。在反应时间达到300分钟后,Ni的(100) 与(111)表层晶面长度分别为8 nm和6.7 nm(图6f)。实验结果 表明,CO与Ni(100)和(110)面的吸附作用比(111)面更强 烈,导致比(111)面更低的表面自由能。沿低指数晶带轴取向 所拍摄的纳米粒子,其表层特定晶面的长度直接和各个晶面的自 由能相关,比较(100)面和(111)面的表层晶面长度可以推断, (100)面的自由能比(111)面低16% [7]。 设计出具有某个特定表层晶面结构的纳米粒子对于多相催化应 用而言具有重要意义,从上述实例可以看出,利用原位透射电子图6 Ni前驱物在0.2 Torr CO/N2,350 ℃的气氛下经历不同 反应时间还 原生成Ni/TiO2催化剂的原位高分辨TEM像(a)反应前;(b)60分钟; (c)90分钟;(d)102分钟;(e)180分钟;(f)300分钟[7] 显微镜为研究采用等体积浸渍法设计合成高性能的纳米催化剂提 供了基础性指导理论[6]。

 

 

6 Ni前驱物在0.2 Torr CO/N2350 ℃的气氛下经历不同 反应时间还 原生成Ni/TiO2催化剂的原位高分辨TEM像(a)反应前;(b60分钟; c90分钟;(d102分钟;(e180分钟;(f300分钟[7]

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06
其它原位技术

 

 

在进行材料研究时,除了使用上述几种最常用的原位表征技术 之外,人们还开发了多种其他类型的原位表征技术。例如:测量 X射线吸收系数随X射线能量的变化曲线,进而得到材料的局部 几何结构信息和电子结构信息的原位X射线吸收光谱(in situ XAS)用于对电极形貌的演变和力学性质进行动态观察的原位 原子力显微镜(in situ AFM);以及可以对材料进行形貌观察的 原位扫描电子显微镜(in situ SEM);进行晶体结构分析的原位 中子衍射技术(in situ NPD)等。 下面我们以原位X射线吸收光谱技术在电化学反应中的应用为 例,简单介绍该技术的实际应用。劳伦斯伯克利国家实验室的张 亮等人利用原位X射线吸收光谱技术对Li2S电极在充电时的反应 机理进行了研究[8]。图7(a)展示了用于得到原位X射线吸收光 谱的电池设计。Li2S电极在第一次和第二次充电时的XAS结果分 别如图7(b-c)所示,在第一次充电时,XAS谱的形状一直在发 生变化,尤其是位于2473.2 eV处的峰强度一直在增加,这是由于 发生了Li2S转化为S的化学反应;而Li2S在第二次充电过程中的原 位XAS谱如图7(c)所示,不难发现,大约位于2473 eV处的特 征峰峰强在逐渐增加,这说明发生了Li2S到S的转变反应。此外, 图中也能观察到一个位于2460.5 eV的新峰,归结为多硫化锂的指 纹峰,可以发现它在充电的最初始就可以观察到,区别于第一次 充电时的现象。 作者详细分析了原位X射线吸收光谱的结果后提出了Li2S电极 在充电时的电化学反应机理,如图8所示,即在第一次充电时, Li2S直接通过两相反应转化为单质S;而在第二次充电时,Li2S则 是先被氧化为多硫化物,进而再转变为单质S。

 

 

a)用于原位XAS测试的电池;(bcLi2S电极在第一次 和第二次充电时的原位XAS[8]

 

 

8 Li2S电极的电化学反应机理[8]

 

 

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07 结语

 

 

表1罗列了各种原位表征技术的功能参数汇总、对比信息。从 表中可以大致看出,各种主要原位表征技术具有较高的空间分辨 率、大多数具有低成本、低辐射损害度的优点,且主要用于物质 的晶体结构、化学成分分析等方面。此外, 各种原位表征技术不 仅可以被独立使用,还可以联合使用,从而获得众多精确、多维 度、丰富的研究成果,推动科学研究向前迈进一大步。未来,原 位表征技术还会得到进一步发展,朝着更高分辨率、更多应用方 向以及新技术的方向发展!

 

 

主要几种原位表征技术汇总、对比

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