可视化极低变温(4.2K)材料力电多场测试系统(MCTS03)

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可视化极低变温(4.2K)材料力电多场测试系统(MCTS03)

     该系统主要由极低/变温控制子系统、背景强磁场子系统、强电流加载控制子系统、机械力学加载控制子系统、非接触多场环境下的宏/微观变形测量子系统五个子系统组成。其中极低/变温控制子系统采用GM制冷机进行低温冷却,实现无液氦制冷,并通过传导冷方式对杜瓦内的试样机磁体进行降温。

产品特点:

可视化杜瓦,可实现室温~4.2K变温环境下光学测试根据测试;

背景强磁场子系统能够提供高达4T的背景强磁场(小型高温超导);

强电流加载控制子系统采用大功率超导电源对测试样品进行电流加载,最大可实现1000A的测试电流;

非接触式全场应变测量系统不与极低温试样及超导磁体接触,不受强磁场、大电流及极低温的影响和干扰,能够高精度的测量待测试样的三维或二维的全场测量;

产品参数:

产品 可视化极低变温(4.2K)材料力电多场测试系统
型号 MCTS03
温度范围 室温~4.2K(无液氦)
控温精度 0.1K
试验力分辨率 0.01N
加载速率 0~1500m/min
试样尺寸 可定制
试样载流 1000A
弯曲测试 弯曲半径1mm~150mm
扭转测试 -360~360度,精度1度
背景磁场 0~4T(可定制,小型高温超导)
变形测量 可视化全场测量(定制三维或二维)

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示意图

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